- 半导体封装测试分选设备
适用于MEMS传感器和存储器/MCU的先进成品测试分选设备:
兼容JEDEC托盘的物料传输系统
配备64个独立控制吸嘴的阵列式取放机构
无氮可编程三温系统(精度±0.5°C)
用于传感器校准的模块化测试刺激腔体
经量产验证的性能,40000+UPH
适用于MEMS传感器和存储器/MCU的先进成品测试分选设备:
兼容JEDEC托盘的物料传输系统
配备64个独立控制吸嘴的阵列式取放机构
无氮可编程三温系统(精度±0.5°C)
用于传感器校准的模块化测试刺激腔体
经量产验证的性能,40000+UPH